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• 010 __ |a 978-7-302-15529-4 |d CNY89.00

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• 200 1_ |a 透射电子显微学 |9 tou she dian zi xian wei xue |e 材料科学教材(4卷本) |d Transmission electron microscopy |e a textbook for materials science |e [英文本] |f David B. Williams，C. Baryy Carter[著] |z eng

• 205 __ |a 影印版

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2007

• 215 __ |a 27,729页 |c 图 |d 28cm

• 300 __ |a 国外大学优秀教材—材料科学与工程系列

• 305 __ |a 英文影印版由Springer-Verlag授权出版

• 330 __ |a 本书分为基本概念、衍射理论、成像原理和能谱分析四卷内容，讲解了电子显微镜的基本概念；介绍了衍射图像、例易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法；阐述了成像原理，对材料研究中典型的课题；讨论了各种能谱的分析方法和技术。

• 510 1_ |a Transmission electron microscopy |e a textbook for materials science |z eng

• 606 0_ |a 透射电子显微术 |x 高等学校 |j 教材-英文

• 690 __ |a TN16 |v 4

• 701 _1 |c (美) |a 威廉斯 |9 wei lian si |b D. B. |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Williams |b David B. |4 著

• 701 _1 |c (美) |a 卡特 |9 ka te |b C. B. |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Carter |b C. Baryy |4 著

• 801 _0 |a CN |b 浙江省新华书店集团公司 |c 20070930

• 905 __ |a ZPHC |d TN16/2