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- 000 01522nam0 2200325 450
- 010 __ |a 978-7-04-043150-6 |b 精装 |d CNY109.00
- 100 __ |a 20160126d2015 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a 透射电子显微学 |9 tou she dian zi xian wei xue |h 上册 |b 专著 |f David B. Williams,C. Barry Carter著 |g 李建奇译
- 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2015
- 215 __ |a 592页 |c 图 |d 25cm
- 304 __ |a 英文共同题名:Transmission electron microscopy
- 330 __ |a 本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了详细介绍。全书共4篇,第1篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念,包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能,以及透射电子显微镜样品的制备等;第2篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术,以及对电子衍射的理论描述;第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术,以及对实验图像的处理、分析和理论模拟;第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用,以及与之相关的各种实验技术。
- 333 __ |a 本书适用于高等院校高年级本科生、研究生
- 510 1_ |a Transmission electron microscopy |z eng
- 606 0_ |a 透射电子显微术 |x 高等学校 |j 教材
- 701 _0 |c (美) |a 威廉斯 |9 wei lian si |c (Williams, David B.) |4 著
- 701 _0 |c (美) |a 卡特 |9 ka te |c (Carter, C. Barry) |4 著
- 702 _0 |a 李建奇 |9 li jian qi |4 译
- 801 _0 |a CN |b ZPHC |c 20160926