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• 200 1_ |a X射线分析方法 |A x she xian fen xi fang fa |b 专著 |f 巫瑞智，王振强编著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2024

• 215 __ |a 207页 |c 图，照片 |d 24cm

• 300 __ |a 科学出版社“十四五”普通高等教育本科规划教材

• 330 __ |a 本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和衍射强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识，在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术，包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等，以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外，还介绍了近年来基于电子计算机断层扫描技术发展起来的三维Ⅹ射线显微镜分析方法。

• 606 0_ |a X射线衍射分析 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a O657.39 |v 5

• 701 _0 |a 巫瑞智 |A wu rui zhi |4 编著

• 701 _0 |a 王振强 |A wang zhen qiang |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 鄞州新华 |c 20241030

• 905 __ |a ZPHC |d O657.39/3