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• 005 20211114092300.0

• 010 __ |a 978-7-306-06689-3 |b 精装 |d CNY200.00

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• 102 __ |a CN |b 440000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 表面分析技术 |A Biao Mian Fen Xi Ji Shu |b 专著 |d Surface analysis: the principal techniques |f (英)约翰·C. 维克曼(John C. Vickerman)，(英)伊恩·S. 吉尔摩(Ian S. Gilmore)编 |g 陈建[等]译 |z eng

• 210 __ |a 广州 |c 中山大学出版社 |d 2020

• 215 __ |a 530页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题。

• 510 1_ |a Surface analysis: the principal techniques |z eng

• 606 0_ |a 表面分析 |A Biao Mian Fen Xi |x 仪器分析

• 690 __ |a O657 |v 5

• 701 _0 |c (英) |a 维克曼 |A Wei Ke Man |c (Vickerman, John C.) |4 编

• 701 _0 |c (英) |a 吉尔摩 |A Ji Er Mo |c (Gilmore, Ian S.) |4 编

• 702 _0 |a 陈建 |A Chen Jian |f (1969.1-) |4 译

• 801 _0 |a CN |b ZPHC |c 20210104

• 905 __ |a ZPHC |d O657/182