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• 000 01023nam0 2200253 450

• 001 0001325918

• 005 20231022154700.0

• 010 __ |a 978-7-03-076215-3 |d CNY98.00

• 100 __ |a 20230923d2023 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 高等仪器分析 |A gao deng yi qi fen xi |f 王霆, 孙铁东编著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2023

• 215 __ |a 267页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书围绕分子结构解析和材料表界面研究, 分九章系统介绍与之相关的各种先进仪器分析方法, 包括质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和分子荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。对于每种方法的发展史、基本原理、常用概念、主要测定技术、测试影响因素以及方法的应用实例都给出了深入的介绍。

• 606 0_ |a 仪器分析 |A yi qi fen xi

• 690 __ |a O657 |v 5

• 701 _0 |a 王霆 |A wang ting |4 编著

• 701 _0 |a 孙铁东 |A sun tie dong |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20230923

• 905 __ |a ZPHC |d O657/202