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• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 超大规模集成电路测试 |A Chao Da Gui Mo Ji Cheng Dian Lu Ce Shi |e 数字、存储器和混合系统 |d = Essentials of electronic testing |e for digital,memory & mixed-signal VLSI circuits |f (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著 |g 蒋安平, 冯建华, 王新安译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005 |h 2006年第2次印刷

• 215 __ |a 511页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |A Guo Wai Dian Zi Yu Tong Xin Jiao Cai Xi Lie

• 320 __ |a 有书目 (第474-511页)

• 330 __ |a 本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号这三类电路的测试和可测试性设计。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列

• 510 1_ |a Essentials of electronic testing |e for digital,memory and mixed-signal VLSI circuits |z eng

• 517 1_ |a 数字、存储器和混合系统 |A Shu Zi、 Cun Chu Qi He Hun He Xi Tong

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A Chao Da Gui Mo Ji Cheng Dian Lu |x 测试 |j 教材

• 690 __ |a TN470.7 |v 4

• 701 _1 |a 布什内尔, |A Bu Shi Nei Er |b M. L. |g (Bushnell, Michael L.) |4 著

• 701 _1 |a 爱戈沃, |A Ai Ge Wo |b V. D. |g (Agrawal, Vishwani D.) |4 著

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20050817

• 801 _2 |a CN |b ZPHC |c 20070319

• 905 __ |a ZPHC |d TN470.7/1