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- 010 __ |a 7-81077-308-9 |d CNY35.00
- 092 __ |a CN |b 040224-ZH-27
- 100 __ |a 20030924d2003 em y0chiy0110 ea
- 200 1_ |a SoC设计与测试 |A SoC she ji yu ce shi |f (美)Rochit Rajsuman著 |g 于敦山等译
- 210 __ |a 北京 |c 北京航空航天大学出版社 |d 2003
- 330 __ |a 本书分为设计和测试两部分,分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分,介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别,并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题,以及SoC系统的验证方法。在测试部分,介绍SoC中逻辑核、存储器核以及模拟核的测试结构与测试方法,还介绍Iddq测试在SoC测试中的应用,最后介绍产品测试中的需要注意的问题。
- 510 1_ |a System-on-a-Chip:Design and Test |z eng
- 606 0_ |a 超大规模集成电路 |x 计算机辅助设计
- 701 _1 |a Rajsuman |b Rochit |4 著
- 702 _0 |a 于敦山 |A yu dun shan |4 译
- 801 _0 |a CN |b ZPHC |c 20040224
- 905 __ |a ZPHC |d TN470.2/1