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- 000 01138nam0 2200277 450
- 010 __ |a 978-7-121-44710-5 |d CNY69.00
- 100 __ |a 20230213d2022 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 材料电子及中子分析技术 |A Cai Liao Dian Zi Ji Zhong Zi Fen Xi Ji Shu |f 朱和国, 黄鸣主编
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2022
- 215 __ |a 350页 |c 图 |d 26cm
- 320 __ |a 有书目 (第348-350页)
- 330 __ |a 本书首先介绍晶体学基础、电子衍射的物理基础、衍射成像、衬度理论、高分辨成像、复杂电子衍射花样、原位透射电子显微分析技术、透射电子显微镜、扫描电镜、扫描透射电镜、电子探针、电子背散射衍射的原理与应用;然后介绍了用于表面分析的俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、扫描隧道显微镜、低能电子衍射、反射高能电子衍射及电子能量损失谱等的原理、特点及其应用;最后介绍了原子探针和中子分析技术等。
- 606 0_ |a 材料 |A Cai Liao |x 电子
- 606 0_ |a 材料 |A Cai Liao |x 中子
- 701 _0 |a 朱和国 |A Zhu He Guo |4 主编
- 701 _0 |a 黄鸣 |A Huang Ming |4 主编
- 801 _0 |a CN |b ZPHC |c 20230213
- 905 __ |a ZPHC |d TB3/229