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• 200 1_ |a 片上系统测试设计与优化 |A pian shang xi tong ce shi she ji yu you hua |b 专著 |f (瑞典)埃里克·拉森著 |g 孙仁杰译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2024

• 215 __ |a 328页 |d 23cm

• 330 __ |a 本书旨在讨论片上系统(SoC)测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂，测试数据量不断增加，如何组织测试，即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。

• 606 0_ |a 微型计算机 |x 系统测试

• 690 __ |a TP360.21 |v 5

• 701 _0 |c (瑞典) |a 拉森 |A la sen |4 著

• 702 _0 |a 孙仁杰 |A sun ren jie |4 译

• 801 _0 |a CN |b 鄞州新华 |c 20231128

• 905 __ |a ZPHC |d TP360.21/47