机读格式显示(MARC)
- 000 01431oam2 2200325 450
- 010 __ |a 978-7-5682-9656-4 |b 精装 |d CNY138.00
- 100 __ |a 20210825d2021 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 电子器件和集成电路单粒子效应 |A Dian Zi Qi Jian He Ji Cheng Dian Lu Dan Li Zi Xiao Ying |b 专著 |d Single event effects of electronic devices and integrated circuits |f 曹洲,安恒,高欣编著 |z eng
- 210 __ |a 北京 |c 北京理工大学出版社有限责任公司 |d 2021
- 215 __ |a 458页 |c 图 |d 24cm
- 225 2_ |a 空间科学与技术研究丛书 |A Kong Jian Ke Xue Yu Ji Shu Yan Jiu Cong Shu
- 300 __ |a “十三五”国家重点出版物出版规划项目 国家出版基金项目 国之重器出版工程 国防现代化建设
- 330 __ |a 本书阐述了电子器件和集成电路空间单粒子效应的基本概念和原理,试验测试的基础理论与方法,单粒子效应对电子系统的影响及防护设计的基本方法,空间单粒子翻转率计算方法及不确定性分析等方面内容。
- 410 _0 |1 2001 |a 空间科学与技术研究丛书
- 510 1_ |a Single event effects of electronic devices and integrated circuits |z eng
- 606 0_ |a 电子器件 |A Dian Zi Qi Jian |x 单粒子态 |x 研究
- 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 单粒子态 |x 研究
- 701 _0 |a 曹洲 |A Cao Zhou |4 编著
- 701 _0 |a 安恒 |A An Heng |4 编著
- 701 _0 |a 高欣 |A Gao Xin |4 编著
- 801 _0 |a CN |b ZPHC |c 20210825