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• 005 20180524105600.0

• 010 __ |a 978-7-5693-0218-9 |d CNY128.00

• 100 __ |a 20180412d2017 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 610000

• 105 __ |a a z 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体材料与器件表征 |A ban dao ti cai liao yu qi jian biao zheng |d = Semiconductor material and device characterization |f (美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K. Schroder)著 |g 徐友龙[等]译 |z eng

• 210 __ |a 西安 |c 西安交通大学出版社 |d 2017

• 215 __ |a 10,714页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 国外名校最新教材精选

• 304 __ |a 译者还有: 任巍、王杰、阙文修、汪敏强等

• 305 __ |a 据原书第3版译出

• 330 __ |a 本书涉及到半导体材料与器件所有方面的表征手段和方法，是学习、研究、制造和测试半导体材料与器件不可多得的教科书和参考书。

• 510 1_ |a Semiconductor material and device characterization |z eng

• 606 0_ |a 半导体材料 |x 研究

• 690 __ |a TN304 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 施罗德 |A shi luo de |c (Schroder, Dieter K.) |4 著

• 702 _0 |a 徐友龙 |A xu you long |4 译

• 702 _0 |a 任巍 |A ren wei |4 译

• 801 _0 |a CN |b ZPHC |c 20180524

• 905 __ |a ZPHC |d TN304/5