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中文图书1.微电子技术的可靠性:互连、器件及系统:interconnects, devices and systems TN4/4
馆藏复本:1
可借复本:1 (瑞典)刘建影(Johan Liu)[等]著
科学出版社 2013
(0) 馆藏
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中文图书2.微电子器件可靠性 TN406/1
馆藏复本:3
可借复本:3 史保华等编著
西安电子科技大学出版社 1999
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馆藏复本:1
可借复本:1 (瑞典)刘建影(Johan Liu)[等]著
科学出版社 2013
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馆藏复本:3
可借复本:3 史保华等编著
西安电子科技大学出版社 1999
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