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中文图书1.倒装芯片缺陷无损检测技术 TN405/4
馆藏复本:2
可借复本:2 廖广兰,史铁林,汤自荣著
高等教育出版社 2019
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中文图书2.后摩尔时代集成电路新型互连技术 TN405/3
馆藏复本:2
可借复本:2 赵文生,王高峰,尹文言著
科学出版社 2017
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中文图书3.高速集成电路互连 TN405/2
馆藏复本:2
可借复本:2 毛军发,唐旻著
科学出版社 2017
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中文图书4.等离子体蚀刻及其在大规模集成电路制造中的应用 TN405.98/1
馆藏复本:2
可借复本:2 张海洋等编著
清华大学出版社 2018
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