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中文图书1.工程测试技术基础 TB22/20
馆藏复本:1
可借复本:1 廖广兰,何岭松,刘智勇主编
华中科技大学出版社 2021
(0) 馆藏
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中文图书2.倒装芯片缺陷无损检测技术 TN405/4
馆藏复本:2
可借复本:2 廖广兰,史铁林,汤自荣著
高等教育出版社 2019
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馆藏复本:1
可借复本:1 廖广兰,何岭松,刘智勇主编
华中科技大学出版社 2021
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馆藏复本:2
可借复本:2 廖广兰,史铁林,汤自荣著
高等教育出版社 2019
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