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  1. 中文图书1.微电子技术的可靠性:互连、器件及系统:interconnects, devices and systems TN4/4

    馆藏复本：1
    可借复本：1     (瑞典)刘建影(Johan Liu)[等]著
    科学出版社 2013
    (0) 馆藏

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