MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：2
- 题名/责任者:
- 片上系统测试设计与优化/(瑞典)埃里克·拉森著 孙仁杰译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-03-076918-3/CNY88.00
- 载体形态项:
- 328页;23cm
- 个人责任者:
- (瑞典) 拉森 著
- 个人次要责任者:
- 孙仁杰 译
- 学科主题:
- 微型计算机-系统测试
- 中图法分类号:
- TP360.21
- 提要文摘附注:
- 本书旨在讨论片上系统(SoC)测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂，测试数据量不断增加，如何组织测试，即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。
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