MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：1
- 题名/责任者:
- X射线分析方法/巫瑞智，王振强编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-03-077697-6/CNY68.00
- 载体形态项:
- 207页:图，照片;24cm
- 个人责任者:
- 巫瑞智 编著
- 个人责任者:
- 王振强 编著
- 学科主题:
- X射线衍射分析-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- O657.39
- 一般附注:
- 科学出版社“十四五”普通高等教育本科规划教材
- 提要文摘附注:
- 本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和衍射强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识，在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术，包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等，以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外，还介绍了近年来基于电子计算机断层扫描技术发展起来的三维Ⅹ射线显微镜分析方法。
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