MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- 极限配合与技术测量/张翠香主编
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-111-61509-5/CNY35.00/CNY25.00[2018]
- 载体形态项:
- 149页:图;26cm
- 个人责任者:
- 张翠香 主编
- 学科主题:
- 公差-配合-中等专业学校-教材
- 学科主题:
- 技术测量-中等专业学校-教材
- 中图法分类号:
- TG801
- 一般附注:
- 中等职业教育教学改革创新规划教材
- 载体形态附注:
- 实际页数为:150
- 书目附注:
- 有书目(第150页)
- 提要文摘附注:
- 本书共包括极限与配合、几何公差、表面缺陷与表面粗糙度、测量技术基础、尺寸链基础、阶段性实训六章内容,采用最新国家标准,重点分析标准和公差,运用大量的图表来说明各种几何量公差的含义,结合检测技术的应用,判断零件的合格性。
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