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- 题名/责任者:
- 表面分析技术/(英)约翰·C. 维克曼(John C. Vickerman)，(英)伊恩·S. 吉尔摩(Ian S. Gilmore)编 陈建[等]译
- 出版发行项:
- 广州:中山大学出版社,2020
- ISBN及定价:
- 978-7-306-06689-3 精装/CNY200.00
- 载体形态项:
- 530页:图;26cm
- 个人责任者:
- (英) 维克曼 (Vickerman, John C.) 编
- 个人责任者:
- (英) 吉尔摩 (Gilmore, Ian S.) 编
- 个人次要责任者:
- 陈建 (1969.1-) 译
- 学科主题:
- 表面分析-仪器分析
- 中图法分类号:
- O657
- 提要文摘附注:
- 本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题。
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