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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:15

题名/责任者:
晶体管非线性模型参数提取技术/(德)马蒂亚斯·鲁道夫(Matthias Rudolph),(德)克里斯蒂安·法格(Christian Fager),(德)戴维·E. 鲁特(David E. Root)著 王颖[等]译
出版发行项:
北京:国防工业出版社,2020
ISBN及定价:
978-7-118-12067-7/CNY88.00
载体形态项:
326页:图;24cm
并列正题名:
Nonlinear transistor model parameter extraction techniques
个人责任者:
(德) 鲁道夫 (Rudolph, Matthias) 著
个人责任者:
(德) 法格 (Fager, Christian) 著
个人责任者:
(德) 鲁特 (Root, David E.) 著
个人次要责任者:
王颖
学科主题:
晶体管-非线性-线性模型-参数分析-研究
中图法分类号:
TN32
版本附注:
Cambridge University Press授权出版
出版发行附注:
限中国大陆发行
提要文摘附注:
本书讨论了晶体管非线性模型构造、参数提取、测量及分析方法以及晶体管封装模型、参数提取不确定度、噪声参数、电路设计等一系列关键问题,是一部细致讲解晶体管非线性模型参数提取技巧和方法的书籍。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态 还书位置
TN32/2 723876 2020  奉化馆流通区(可借)     定位 可借 奉化馆流通区(可借)
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