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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:19

题名/责任者:
电子设备故障诊断与排除/(美)丹尼尔 R. 托马尔(Daniel R. Tomal),(美)阿拉姆 S. 亚建尼(Aram S. Agajanian)著 张雪英,段淑斐,刘帆译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2017
ISBN及定价:
978-7-111-55411-0/CNY79.00
载体形态项:
15,323页:图;24cm
并列正题名:
Electronic troubleshooting
丛编项:
电子电气工程师技术丛书
个人责任者:
(美) 托马尔 (Tomal, Daniel R.) 著
个人责任者:
(美) 亚建尼 (Agajanian, Aram S.) 著
个人次要责任者:
张雪英
个人次要责任者:
段淑斐
个人次要责任者:
刘帆
学科主题:
电子设备-故障诊断
学科主题:
电子设备-故障修复
中图法分类号:
TN05
中图法分类号:
TN05
版本附注:
据原书第4版译出
出版发行附注:
由麦格劳-希尔(亚洲)教育出版公司和机械工业出版社合作出版
出版发行附注:
本书限中国大陆发行
提要文摘附注:
本书基于现代化的网络技术和电子技术,融合了传统电学理论和器件应用。书中涵盖了基于微处理器的最新系统设备、测试仪器和技术,重点阐述了计算机网络和网络驱动器、嵌入式微处理器系统的故障诊断与排除。主要内容包括:必备的基础理论,当今测试设备的发展,工业控制中必不可少的电气理论、应用和服务知识,民用和工业布线的故障诊断,数字电路、时序数字电路的故障诊断与排除,计算机网络、网络驱动器、嵌入式微处理器系统的故障诊断与排除等。
使用对象附注:
本书适用于电子工程师及电子爱好者
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态 还书位置
TN05/20 551413 2017  奉化馆密集库(可借)     定位 可借 奉化馆密集库(可借)
TN05/20 551414 2017  奉化馆流通区(可借)     定位 可借 奉化馆流通区(可借)
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