MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：11
- 题名/责任者:
- 透射电子显微学.上册/David B. Williams，C. Barry Carter著 李建奇译
- 出版发行项:
- 北京:高等教育出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-04-043150-6 精装/CNY109.00
- 载体形态项:
- 592页:图;25cm
- 个人责任者:
- (美) 威廉斯 (Williams, David B.) 著
- 个人责任者:
- (美) 卡特 (Carter, C. Barry) 著
- 个人次要责任者:
- 李建奇 译
- 学科主题:
- 透射电子显微术-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- O766
- 中图法分类号:
- O766
- 一般附注:
- 材料科学经典著作选译
- 题名责任附注:
- 英文共同题名：Transmission electron microscopy
- 版本附注:
- 据原书第2版译出
- 提要文摘附注:
- 本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了详细介绍。全书共4篇，第1篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念，包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能，以及透射电子显微镜样品的制备等；第2篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术，以及对电子衍射的理论描述；第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟；第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。
- 使用对象附注:
- 本书适用于高等院校高年级本科生、研究生
全部MARC细节信息>>
鄞州馆流通区(可借)