MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- X射线荧光光谱的基本参数法/卓尚军，陶光仪，韩小元著
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-5478-0507-7 精装/CNY68.00
- 载体形态项:
- 379页;22cm
- 个人责任者:
- 卓尚军 著
- 个人责任者:
- 陶光仪 著
- 个人责任者:
- 韩小元 著
- 学科主题:
- X射线荧光光谱法-荧光分析
- 中图法分类号:
- O657.34
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例，书末还列出了重要的基本参数。
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