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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:5

题名/责任者:
微电子器件可靠性/史保华等编著
出版发行项:
西安:西安电子科技大学出版社,1999
ISBN及定价:
7-5606-0719-5/¥13
载体形态项:
182页;26cm
个人责任者:
史保华 编著
学科主题:
微电子技术-电子器件-可靠性-高等学校-教材
学科主题:
电子器件-微电子技术-可靠性-高等学校-教材
学科主题:
可靠性-电子器件-微电子技术-高等学校-教材
中图法分类号:
TN406
中图法分类号:
TN406
一般附注:
高等学校电子信息类规划教材 研究生系列教材 西安电子科技大学研究生教材建设基金资助
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态
TN406/1 214072 2001 - 鄞州馆流通区(可借)     定位 可借
TN406/1 214073 2001 - 鄞州馆流通区(可借)     定位 可借
TN406/1 214074 2001 - 鄞州馆流通区(可借)     定位 可借
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