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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:2

题名/责任者:
典型电子电路设计与测试/张东辉[等]编著
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-111-76751-0/CNY99.00
载体形态项:
293页:图,照片;24cm
丛编项:
实用电子电路设计丛书
个人责任者:
张东辉 编著
学科主题:
电子电路-电路设计
学科主题:
电子电路-测试技术
中图法分类号:
TN702
中图法分类号:
TN707
题名责任附注:
编著者还有:常国洁、张超杰、孙德冲
提要文摘附注:
本书主要对运算放大器电路、波形发生电路、功率放大电路、信号隔离和转换电路等典型电子电路进行设计与测试,包括工作原理分析、参数计算、仿真验证,以及实际电路板测试。每个设计独立成节,首先进行电路工作原理讲解和主要参数计算;然后进行电路仿真分析,瞬态、直流、交流、参数和高级仿真时对电路关键节点信号波形进行测试,以便与实际测试进行对比;最后进行电路板制作与实际测试,包括详细元器件列表、调试步骤、典型测试波形及故障排除与分析。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态 还书位置
TN702/71 838290 2024  鄞州馆流通区(可借)     定位 可借 鄞州馆流通区(可借)
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