MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：7
- 题名/责任者:
- 纳米器件空间辐射效应/陈伟[等]著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-03-078610-4/CNY198.00
- 载体形态项:
- 280页:图，照片;24cm
- 丛编项:
- 辐射环境模拟与效应丛书
- 个人责任者:
- 陈伟 著
- 学科主题:
- 纳米材料-电子器件-辐射效应
- 中图法分类号:
- TN103
- 中图法分类号:
- TL7
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍纳米器件空间辐射效应基本概念和研究现状、纳米器件所用材料的辐射损伤微观表征、纳米器件空间辐射效应新机理及可靠性、辐射损伤在纳米电路中的传播机制和加固方法、空间辐射效应重离子模拟试验技术等内容。
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