MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 材料现代测试分析技术/薛理辉编著
- 出版发行项:
- 武汉:武汉理工大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5629-6929-7/CNY158.00
- 载体形态项:
- 482页:图 (部分彩图);30cm
- 个人责任者:
- 薛理辉 编著
- 学科主题:
- 工程材料-测试技术
- 学科主题:
- 工程材料-分析方法
- 中图法分类号:
- TB3
- 一般附注:
- 湖北省公益学术著作出版专项资金资助项目
- 书目附注:
- 有书目 (第481-482页)
- 提要文摘附注:
- 本书共六个部分, 第一部分介绍晶体结构基础 (第一章); 第二部分以原子及其内层电子能级结构为基础, 介绍X射线光电子能谱、X射线能谱、波谱、荧光光谱等分析方法 (第二、三章); 第三部分是X射线衍射分析, 其中对消光概念包括点阵消光、空间群消光和结构消光做了全面总结, 重点介绍了Rietveld全谱拟合法的基本原理及实践经验 (第四章); 第四部分是电子显微分析, 包括电子光学基础、成像原理、电子衍射分析、背散射电子衍射原理及分析方法等 (第五、六章); 第五部分介绍热分析, 包括热分析基本原理, 九种热分析仪器及热分析的应用等内容 (第七章)。
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