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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:5

题名/责任者:
功率器件热可靠性检测与分析技术/万博, 付桂翠编著
出版发行项:
北京:国防工业出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-118-13085-0/CNY118.00
载体形态项:
xii, 284页, 4页图版:图 (部分彩图);24cm
并列正题名:
Thermal reliability testing and analysis techniques for power electronic devices
丛编项:
可靠性新技术丛书
个人责任者:
万博 编著
个人责任者:
付桂翠 编著
学科主题:
功率半导体器件-可靠性-研究
中图法分类号:
TN303
一般附注:
“十三五”国家重点出版物出版规划项目
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书主要围绕功率器件在高温和温度变化下的热可靠性这一主题, 对功率器件基本概念、热相关可靠性检测、试验和分析进行了介绍。在功率器件基本概念部分主要介绍了功率器件的分类、功能结构、工艺, 并引出了现有功率器件可能存在的热可靠性问题。功率器件热可靠性检测、试验部分主要介绍了功率器件的缺陷检测方法、可靠性试验方法和状态监测方法。最后在功率器件热可靠性分析方面, 介绍了功率器件的电热耦合及封装结构仿真分析方法。本书在编写过程中结合了状态监测和健康管理、物理基仿真和失效物理等可靠性新技术, 研究建立了具有一定创新性的功率器件检测、试验和分析方法。同时, 本书还特别强调了理论与工程的结合、试验与仿真的结合, 具有较强的工程实用性。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态 还书位置
TN303/30 789819 2024  奉化馆流通区(可借)     定位 可借 奉化馆流通区(可借)
TN303/30 781682 2024  鄞州馆流通区(可借)     定位 可借 鄞州馆流通区(可借)
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