MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：7
- 题名/责任者:
- 高等仪器分析/王霆, 孙铁东编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-03-076215-3/CNY98.00
- 载体形态项:
- 267页:图;24cm
- 个人责任者:
- 王霆 编著
- 个人责任者:
- 孙铁东 编著
- 学科主题:
- 仪器分析
- 中图法分类号:
- O657
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书围绕分子结构解析和材料表界面研究, 分九章系统介绍与之相关的各种先进仪器分析方法, 包括质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和分子荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。对于每种方法的发展史、基本原理、常用概念、主要测定技术、测试影响因素以及方法的应用实例都给出了深入的介绍。
全部MARC细节信息>>
奉化馆流通区(可借)