MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- X射线检测关键技术与应用研究/方正编著
- 出版发行项:
- 厦门:厦门大学出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-5615-8068-4/CNY68.00
- 载体形态项:
- 329页:图;24cm
- 丛编项:
- 厦门大学南强丛书.第七辑
- 个人责任者:
- 方正 编著
- 学科主题:
- X射线-射线检验
- 中图法分类号:
- TB302.5
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了X射线检测和CT重建方面的理论知识及应用实例。本书从X射线的基础理论知识开始，介绍了X射线检测的物理学基础。对射线检测各种方法进行了较为全面的描述，包括常规的X射线成像、射线光谱检测、CT重建等，还涉及前沿的吸收光谱检测、光/能谱CT、发射型计算机断层成像等领域。通读全书能系统地了解该领域的基础理论，把握良好的知识体系框架，有利于读者客观全面地分析和解决实际问题。
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