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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:9

题名/责任者:
电子元器件检验技术.试验部分/王晓晗,罗宏伟编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2019
ISBN及定价:
978-7-121-33484-9/CNY98.00
载体形态项:
11,369页:图;26cm
丛编项:
可靠性技术丛书
个人责任者:
王晓晗 编著
个人责任者:
罗宏伟 编著
学科主题:
电子元器件-测试技术
中图法分类号:
TN606
题名责任附注:
工业和信息化部电子第五研究所组编
提要文摘附注:
本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上,结合我国电子元器件产业现状,从电子元器件检验和生产行业出发,围绕电子元器件检验主题,详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系,以及不同类别电子元器件的检验技术等。
使用对象附注:
本书适用于电子产品生产企业质量与可靠性工程师
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态 还书位置
TN606/19 621853 2019  奉化馆流通区(可借)     定位 可借 奉化馆流通区(可借)
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