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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:13

题名/责任者:
半导体材料与器件表征/(美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K. Schroder)著 徐友龙[等]译
出版发行项:
西安:西安交通大学出版社,2017
ISBN及定价:
978-7-5693-0218-9/CNY128.00
载体形态项:
10,714页:图;26cm
并列正题名:
Semiconductor material and device characterization
个人责任者:
(美) 施罗德 (Schroder, Dieter K.) 著
个人次要责任者:
徐友龙
个人次要责任者:
任巍
学科主题:
半导体材料-研究
中图法分类号:
TN304
一般附注:
国外名校最新教材精选
题名责任附注:
译者还有: 任巍、王杰、阙文修、汪敏强等
版本附注:
据原书第3版译出
提要文摘附注:
本书涉及到半导体材料与器件所有方面的表征手段和方法,是学习、研究、制造和测试半导体材料与器件不可多得的教科书和参考书。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态 还书位置
TN304/5 600827 2017  奉化馆密集库(可借)     定位 可借 奉化馆密集库(可借)
TN304/5 600826 2017  奉化馆流通区(可借)     定位 可借 奉化馆流通区(可借)
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