浙江药科职业大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:16

题名/责任者:
半导体材料标准汇编(2014版).方法标准 国标分册/全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会,中国标准出版社编
出版发行项:
北京:中国标准出版社,2014
ISBN及定价:
978-7-5066-7752-3/CNY230.00
载体形态项:
703页:图;30cm
个人责任者:
贺东江 (材料学) 主编
团体次要责任者:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会 材料分会 编
团体次要责任者:
中国标准出版社
学科主题:
半导体材料-材料标准-中国-汇编
中图法分类号:
TN304-65
中图法分类号:
TN304-65
责任者附注:
主编:贺东江
提要文摘附注:
本书收录了非本征半导体材料导电类型测试方法、硅单晶电阻率测定方法、硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法、硅片直径测量方法等标准。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态
TN304-65/2 507271 2014 - 鄞州馆参阅区(阅览)     定位 阅览
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架