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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:18

题名/责任者:
光学测试技术/刘承,张登伟,张彩妮等编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2013
ISBN及定价:
978-7-121-20194-3/CNY49.90
载体形态项:
311页:图;26cm
个人责任者:
刘承 编著
个人责任者:
张登伟 编著
个人责任者:
张彩妮 编著
学科主题:
光学仪器-测试技术-高等学校-教材
中图法分类号:
TH740.6-43
中图法分类号:
TH740.6-43
一般附注:
光电信息科学与工程类专业规划教材
提要文摘附注:
本书从基本原理出发,着重阐述各种物理量的光学测试技术、方法和手段,选材上既注重基础理论性更着重实用性和先进性,是学习、掌握先进的精密测试技术的一本入门教材和技术实用书籍。本书包括6章内容,分别为绪论、光干涉技术、光衍射技术、光调制及扫描技术、光纤传感技术和光纳米传感与测量技术。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 所在方位 书刊状态 还书位置
TH740.6-43/1 461811 2013 - 奉化馆流通区(可借)     定位 可借 奉化馆流通区(可借)
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