MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：11
- 题名/责任者:
- 现行光学元件检测与国际标准/徐德衍[等]编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-03-025083-4/CNY50.00
- 载体形态项:
- 13,302页:图;24cm
- 个人责任者:
- 徐德衍 编著
- 学科主题:
- 光学元件-检测
- 学科主题:
- 光学元件-国际标准
- 中图法分类号:
- TH74
- 中图法分类号:
- TH74-65
- 题名责任附注:
- 编著还有：王青等5人
- 提要文摘附注:
- 本书重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章，主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求；计量概念与误差及精度的必要知识；光学元件检测基础；光学元件的参数检测和性能检测的现行技术等内容。
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