MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 集成电路测试技术基础/姜岩峰，张晓波，杨兵编著
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-122-02948-5/CNY26.00
- 载体形态项:
- 170页;24cm+1光盘
- 个人责任者:
- 姜岩峰 编著
- 个人责任者:
- 张晓波 编著
- 个人责任者:
- 杨兵 编著
- 学科主题:
- 集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN407
- 中图法分类号:
- T
- 载体形态附注:
- 附光盘：ISBN 978-7-122-02948-5
- 提要文摘附注:
- 本书包括数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术三大部分内容，主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。
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