MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：9
- 题名/责任者:
- 超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合系统/(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著 蒋安平, 冯建华, 王新安译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2005
- ISBN及定价:
- 7-121-01490-4/CNY58.00
- 载体形态项:
- 511页:图;26cm
- 并列正题名:
- Essentials of electronic testing:for digital,memory and mixed-signal VLSI circuits
- 其它题名:
- 数字、存储器和混合系统
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 布什内尔, M. L. (Bushnell, Michael L.) 著
- 个人责任者:
- 爱戈沃, V. D. (Agrawal, Vishwani D.) 著
- 学科主题:
- 超大规模集成电路-测试-教材
- 中图法分类号:
- TN470.7
- 书目附注:
- 有书目 (第474-511页)
- 提要文摘附注:
- 本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号这三类电路的测试和可测试性设计。
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