MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- SoC设计与测试/(美)Rochit Rajsuman著 于敦山等译
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2003
- ISBN及定价:
- 7-81077-308-9/CNY35.00
- 载体形态项:
- 210页;26CM
- 个人责任者:
- Rajsuman Rochit 著
- 个人次要责任者:
- 于敦山 译
- 学科主题:
- 超大规模集成电路-计算机辅助设计
- 学科主题:
- 超大规模集成电路
- 学科主题:
- 计算机辅助设计
- 中图法分类号:
- TN470.2
- 提要文摘附注:
- 本书分为设计和测试两部分，分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分，介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SoC系统的验证方法。在测试部分，介绍SoC中逻辑核、存储器核以及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍Iddq测试在SoC测试中的应用，最后介绍产品测试中的需要注意的问题。
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